해피레포트 - 전기전자회로 실험 - BJT의 단자 특성과 바이어싱 결과

카테고리 : 레포트 > 공학,기술계열 파일이름 :전기전자회로 실험 - BJT의 단자.pptx 문서분량 : 25 page 등록인 : leewk2547 문서뷰어 : MS-파워포인트뷰어프로그램 등록/수정일 : 13.11.29 / 13.11.29 구매평가 : 다운로드수 : 2 판매가격 : 2,000 원

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활성 모드에서 동작하는 바이폴라 접합 트랜지스터(BJT)의 단자 특성을 실험을 통해 이해한다. BJT를 활성 모드에서 안정하게 동작시키기 위한 바이어싱(biasing) 회로를 실험을 통해 이해한다. 트랜지스터는 세 개의 반도체영역, 즉 emitter영역, base영역,collector영역으로 구성되며 이와 같은 트랜지스터를 우리는 npn형과 pnp형이라 부른다. ● npn형 오른쪽은 npn형 트랜지스터 의 간략화된 구조이다. 그림을 보면 트랜지스터는 두 개의 pn접합, 즉 이미터-베이 스 접합(EBJ)과 컬렉터-베이스 접합(CBJ)으로 구성된다는 것 을 알 수 있다. ● pnp형 오른쪽은 pnp형 트랜지스터의 간략화된 구조이다. npn형 구조와 같은 이미터-베이스접합과 컬렉터-베이스접합으로 구성된다는 것을 알 수 있다.

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