SEM은 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰하는 데 가장 다양 하게 쓰이는 분석기기이다. SEM의 초점심도가 크기 때문에 3차원적인 영상의 관찰이 용 이해서 곡면 혹은 울퉁불퉁한 표면의 영상을 육안으로 관찰하는 것처럼 보여준다. 이 SEM 은 전자가 표본을 통과하는 것이 아니라 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표 면에서 발생된 이차 전자는 검파기(detector)에 의해 수집된다.
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