해피레포트 - [재료공학실험] AES, EDX, RBS

카테고리 : 레포트 > 공학,기술계열 파일이름 :AES, EDX, RBS.hwp 문서분량 : 3 page 등록인 : yaholeedh 문서뷰어 : 한글뷰어프로그램 등록/수정일 : 09.09.23 / 09.09.23 구매평가 : 다운로드수 : 1 판매가격 : 1,000 원

미리보기

같은분야 연관자료
[신소재공학] AES, RBS, SIMS, STM... 6 pages 1500 원

LCD 스퍼터링[sputtering]에 관하여... 4 pages 1600 원

재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)... 31 pages 3000 원

[공과대학] LED의 어두운 비밀... 14 pages 2000 원

[신소재] SEM의 원리와 구성... 3 pages 1000 원

보고서설명
재료분석기기에 대한 설명 수록

본문일부/목차
1. Auger Electron Spectroscopy (AES) 수백 Angstrom크기로 집속된 electron beam을 재료표면에 입사시켜 방출되는 Auger 전자의 에너지를 측정하여 재료 표면을 구성하고 있는 원소의 종류 및 양을 분석해내는 표면 분석 장치. (1)Auger Image Mapping : 이차원 표면에 존재하는 특정원소의 분포상황을 보여주는 것으로 electron analyzer의 에너지 범위를 분석하고자 하는 원소의 Auger 특성 에너지값을 포함하도록 설정한 후 전자빔을 분석면에 주사시켜 위치별로 감지된 Auger특성 피크의 신호경도에 따른 명암 차이로 나타내는 것 (2)Auger Spectra : 점 또는 면에 존재하는 원소의 정성, 정량분석 가능. - 정성분석 : 에너지별 전자 신호 강도 N(E)를 측정하여 원소별 Auger특성 피크를 확인하여 원소의 종류를 알 수 있음. - 정량분석 : 원소별로 Auger 특성 피크를 포함하는 에너지 범위를 설정하여 N(E)를 측정하고 원소별 감도인자(element sensitivity factor)를 고려하여 원소별 조성비를 얻을 수 있음. (3)수직분포 분석(Depth Profiling) 시료표면에 에너지가 큰 불활성기체로부터 발생시킨 양이온(Ar+)을 충돌시킴으로써 표면을 분당 수~수십Å까지의 깊이에 따른 조성변화와 화학적 상태변화를 분석하는 방법. 이온 식각은 Ion gun에 의하며, 보통 computer에 의해 자동적으로 이온 식각과 스펙트럼 측정을 순차적으로 진행시키면서 결과를 얻음.

연관검색어
auger

구매평가

구매평가 기록이 없습니다

보상규정 및 환불정책
· 해피레포트는 다운로드 받은 파일에 문제가 있을 경우(손상된 파일/설명과 다른자료/중복자료 등) 1주일이내 환불요청 시
환불(재충전) 해드립니다. (단, 단순 변심 및 실수로 인한 환불은 되지 않습니다.)
· 파일이 열리지 않거나 브라우저 오류로 인해 다운이 되지 않으면 고객센터로 문의바랍니다.
· 다운로드 받은 파일은 참고자료로 이용하셔야 하며,자료의 활용에 대한 모든 책임은 다운로드 받은 회원님에게 있습니다.

저작권안내

카테고리 : 레포트 > 공학,기술계열
파일이름 :AES, EDX, RBS.hwp
문서분량 : 3 page	등록인 : yaholeedh
문서뷰어 : 한글뷰어프로그램	등록/수정일 : 09.09.23 / 09.09.23
구매평가 :	다운로드수 : 1

[재료공학실험] AES, EDX, RBS

판매가격 : 1,000 원