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> 공학,기술계열
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XRF
(X-Ray Flourescence Spectrometry) 의 원리
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[공학,기술계열]
등록일: 2012/03/31 | 등록자:
cheonhoo
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XRF
(X-Ray Flourescence Spectrometry) 원소를 분석하는 방법에는 시료를 파괴하는 파괴 검사가 일반적으로 많이 행하여진다. 그러나
XRF
는 대부분의 다른 원소의 분석 방법과는 대조적으로 시료를 파괴하지 않고...
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재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS,
XRF
, ICP-MS, AAS, XPS)
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[공학,기술계열]
등록일: 2012/03/31 | 등록자:
cheonhoo
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재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS,
XRF
, ICP-MS, AAS, XPS) 여러가지 측정 방법에 대한 원리, 실험방법, 적용범위 재료의 조성 측정방법
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분석기기에 관해 - 주사전자현미경[SEM, FE-SEM], X선 형광 분석기[
XRF
], X선 회절 분석기[XRD], 시차 열 중량 열량 분석기[..
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[공학,기술계열]
등록일: 2013/07/30 | 등록자:
leewk2547
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NT(Nano Technology)의 연구가 증가하면서 자연스럽게 미세구조물 또는 재료의 표면 형상에 대한 정보가 요구되고 있는 것이 현재의 추세이다. 이러한 요구를 충족시키기 위하여 전자현미경이 계발 되었다.
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