해피레포트

세일즈코드

레포트 > 공학,기술계열	정확도순 최신등록순 다운높은순 분량많은순 낮은가격순 높은가격순

새창
미리보기
- 공학,기술계열
- XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 의 원리
- 2012/03/31 cheonhoo 3 페이지 1,000원 다운 2회 구매평가
- XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 원소를 분석하는 방법에는 시료를 파괴하는 파괴 검사가 일반적으로 많이 행하여진다. 그러나 XRF는 대부분의 다른 원소의 분석 방법과는 대조적으로 시료를 파괴하지 않고...

새창
미리보기
- 공학,기술계열
- 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
- 2012/03/31 cheonhoo 31 페이지 3,000원 다운 40회 구매평가
- 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS) 여러가지 측정 방법에 대한 원리, 실험방법, 적용범위 재료의 조성 측정방법

새창
미리보기
- 공학,기술계열
- 분석기기에 관해 - 주사전자현미경[SEM, FE-SEM], X선 형광 분석기[XRF], X선 회절 분석기[XRD], 시차 열 중량 열량 분석기[TG-DTA], 입도분석기
- 2013/07/30 leewk2547 14 페이지 2,000원 다운 1회 구매평가
- NT(Nano Technology)의 연구가 증가하면서 자연스럽게 미세구조물 또는 재료의 표면 형상에 대한 정보가 요구되고 있는 것이 현재의 추세이다. 이러한 요구를 충족시키기 위하여 전자현미경이 계발 되었다.

	1

회사소개 이용약관 저작권 규정 개인정보 취급방침 고객센터 1:1문의 이메일무단수집거부 책임의 한계와 법적고지
- - (주)제일소프트 | 대표이사: 최선영
  - 주소: 광주광역시 서구 상무중앙로9 19층(치평동,동양빌딩)
  - TEL: 1566-7889 | 사업자등록번호: 408-81-74331 | 통신판매업신고번호: 제 2009-광주서구-00076
  - 사업자정보확인 바로가기
  - ⓒJELISOFT ALL RIGHT RESERVED.

출석대체과제물바로가기

기말과제물바로가기